单个矢量源用内部 IQ/任意波形调制产生多条谱线，减少外部合路器并提供相位相关性；但电平差设置、载波泄漏、DAC 与上变频非线性限制测试纯度。
对两音 $f_1<f_2$，靠近基波的三阶互调产物为：
$$ f_{\rm IM3,L}=2f_1-f_2,\qquad f_{\rm IM3,H}=2f_2-f_1. $$
如 400、401 MHz 双音产生 399、402 MHz 的近端 IM3。测 DUT 前应进行信号源本底/旁路检查，防止把源自带 IM3 当作 DUT 性能。
课件指出 IQ offset 调整可减小某些源的中心载波馈通，但不保证消除所有杂散。高精度功率测试可选择多台 CW 合路，前提是做好反向隔离。